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仪器名称

 

高分辨透射电子显微镜

high-resolution transmission electron   microscopy(HRTEM

型号规格

JEM-2100(HR

价值

¥313万元

产地

日本JEOL公司

购置日期

2010年12

主要技术指标

电子枪:LaB6(六硼化镧)

点分辨率:0.23 nm

线分辨率:0.14 nm

加速电压:200 kV

放大倍数(高倍:2000-1,500,000;低倍:50-6,000

倾斜角:±35°

能谱仪能量分辨率(MnK):优于136eV

配备OSIS Keenview CCD相机

应用范围

材料(尤其是纳米材料)显微结构(包括普通形貌及晶格像)分析及微区成分定性定量分析。