仪器名称
| 高分辨透射电子显微镜 high-resolution transmission electron microscopy(HRTEM) |
型号规格 | JEM-2100(HR) |
价值 | ¥313万元 |
产地 | 日本JEOL公司 |
购置日期 | 2010年12月 |
主要技术指标 | 电子枪:LaB6(六硼化镧) 点分辨率:0.23 nm 线分辨率:0.14 nm 加速电压:200 kV 放大倍数(高倍:2000-1,500,000;低倍:50-6,000 倾斜角:±35° 能谱仪能量分辨率(MnK):优于136eV 配备OSIS Keenview CCD相机 |
应用范围 | 材料(尤其是纳米材料)显微结构(包括普通形貌及晶格像)分析及微区成分定性定量分析。 |