场发射高分辨透射电子显微镜

英文名称

Field-Emission High Resolution Transmission Electron   Microscopy

型号规格

Talos F200X

价值（万元）

1500

产地

美国

购置日期

2017.05

主要技术指标

加速电压：200 kV

TEM点分辨率：0.25 nm，线分辨率：0.14 nm，信息分辨率：0.12 nm

STEM分辨率：0.16 nm

放大倍数：25~1500000 (TEM), 150~2300000 (STEM)

Super-X EDS能谱仪系统的能量分辨率：136 eV

应用范围

纳、微米材料的精细结构表征